原位扫描电子显微镜,扫描电子显微镜和透射电子显微镜的区别

什么是原位扫描电子显微镜？

原位扫描电子显微镜（In-situ scanning electron microscope，简称ISEM）是一种能够在高真空下对实验样品进行实时观察和测量的电子显微镜。它可以通过对样品进行调控实现其加热、冷却、载荷和应力等操作，以便实现原位测试。

与扫描电子显微镜的区别是什么？

扫描电子显微镜（Scanning electron microscope，简称SEM）也是一种电子显微镜，但其主要功能是通过扫描电子束来观察样品表面的形态、结构和成分等特性，并通过显微镜强大的分析和成像能力来对样品中的一些细节和微观结构进行分析和研究。

ISEM和透射电子显微镜的区别是什么？

ISEM与透射电子显微镜（Transmission electron microscope，简称TEM）的主要区别在于其成像原理不同。TEM主要成像原理是通过透射电子来观察材料的内部结构和样品的断面、晶体结构等细节结构，而ISEM则通过扫描电子束来观察表面形态、材料的结构特性和样品的原位变化，包括形态、结构、成分分析等等。

ISEM的应用范围有哪些？

ISEM具有非常广泛的应用范围，在材料、物理、化学、生命科学、纳米科学等领域都有着广泛的应用。ISEM可以对材料的结构特性、表面形态、成分分析、结构模拟等多方面进行研究，具有极高的实验效率和精度，可以应用于材料科学、纳米技术、能源材料、生物医学、电子器件等领域的研究。